SEM-EDX

Samen met met een aantal vakgroepen van de UGent en Centexbel beschikt het BIL over een scanning elektronmicroscoop (SEM) met EDX-detector. Met deze raster-elektronenmicroscoop JEOL type JSM-7600F, kan een beeldresolutie van 1.0 nm bereikt worden.

• De voordelen van de beeldvorming met een SEM zijn de hoge vergrotingen en de goede scherptediepte (de afstand van het dichtste tot het verste punt dat nog scherp wordt afgebeeld). De SEM is bij een schade-analyse essentieel voor het bestuderen van breukoppervlakken en andere beschadigde onderdelen.
• Daarnaast kunnen ook chemische analyses uitgevoerd worden door energie dispersieve Röntgenstralen spectroscopie (EDX). Zo kunnen basismateriaal en/of corrosieproducten gekarakteriseerd worden. Dit kan zowel kwalitatief (welke elementen zijn aanwezig) als semi-kwantitatief (in welke verhouding zijn deze elementen aanwezig).