Elektronenmicroscopisch onderzoek is een belangrijke schakel in het schadeonderzoek
Hierbij kan het BIL beroep doen op de elektronenmicroscoop ‘JEOL JSM-7600F Analytical Ultrahigh Resolution TFEG-SEM’. Het toestel is uitgerust met een analysesysteem ‘OXFORD Instruments AZtec Microanalysis System’ waarmee analyses kunnen worden uitgevoerd (inclusief linescans, mappings,…).
- De SEM wordt in het schade-onderzoek vaak gebruikt om de breuk- / scheuroppervlakken te identificeren: soms gaat het over een taaie overbelastingsbreuk, een kliefbreuk, een intergranulaire breuk, een vermoeiingsscheur met typische vermoeiingslijntjes (striations), een warmscheur…. Het type breuk of scheur kennen is cruciaal om de oorzaak van de schade te bepalen en gericht advies te geven om het probleem te voorkomen.
- Naast het typeren van het breuk- / scheuraspect kunnen ook EDX (Energie Dispersief X-straal)- analyses worden uitgevoerd. Hiermee kan het gefaalde basis – en/of lasmateriaal geïdentificeerd worden (kwalitatief en/of semi-kwantitatief). Voor zwaardere elementen bedraagt de nauwkeurigheid ongeveer 1 wt% bij een EDX-analyse.
- Vaak worden ook corrosieproducten geanalyseerd om de aanwezigheid van eventuele corrosieve elementen (vb. chloor,zwavel,…) na te gaan. Bij een corrosieonderzoek is ook de vorm van de (putvormige) aantasting bepalend.
