SEM-EDX
Conjointement avec certains départements de l’UGent et Centexbel, l’IBS possède un microscope électronique (SEM) avec sonde EDX. Ce microscope JEOL type JSM-7600F permet d’obtenir une résolution de 0.1 nm.
- L’avantage de l’imagerie SEM est la possibilité d’obtenir un très fort grossissement tout en gardant une très bonne profondeur de l’image (la distance entre le point le plus proche et le point le plus lointain reste net sur l’écran). Lors d’une analyse de dommages, la SEM est essentielle pour l’étude des surfaces de fractures et d’autres parties endommagées.
- En outre, des analyses chimiques peuvent être effectuées par spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie (EDX). De cette façon, le matériau de base et/ou les produits de corrosion peuvent être caractérisés. Ceci peut être aussi bien qualitatif (éléments présents) que quantitatif (proportion dans laquelle ces éléments sont présents).
